| 1. 
    Denumirea echipamentului MICROSCOP DE BALEIAJ CU SONDA, JEOL JSPM 4210  MICROSCOPIE DE FORTA ATOMICA
 SI MICROSCOPIE 
    DE TUNELARENume de catalog : JEOL JSPM 4210
 Producator: JEOL Ltd. Japonia.
 Tip echipament: echipament strategic
   
                 
    AFM- STM: JSPM 4210  2. Anul echipamentului: 2004
 3. Caracteristici tehnice / performante:
  microscopie de forta atomica AFM  AC mode, Contact mode, Non-contact mode
  imaging mode la rezolutie micro si nanostructurala
  moduri speciale de scanare: magnetic AFM, conductive AFM
  investigari de proprietati mecanice la nivel nano (nano-mecanica) si curbe 
    de forta
  microscopie de tunelare STM
  adaptare celula de investigatii in mediu fluid
  investigare la arii mici ,,narrow area scanning
  unitate de investigare a visco elasticitatii
 
 Caracteristici dimensionale investigare probe:
  In mod curent se pot investiga probe cu dimensiunile gabaritice maxime: 20 X 50 X 2.5 mm
  Caracteristici maxime de investigare pe suprafaţa probelor: - suprafata 
    maxima 20 μm x 20 μm;
  cursa maxima pe axa z 4 μm.
 
 Softuri specifice:
  Win SPM scanning  softul specializat pentru obtinerea 
    imaginilor Win SPM processing  softul specializat de prelucrare si analiza a
    imaginilor AFM.
  Softurile permit analize ale suprafetei probei, rugozitate, detalii de 
    profil, analiza de distributie a particulelor.
 
 4. Domenii de activitate:
  Morfologia nanobiomaterialelor avansat procesate
  Imagistica pe filme subtiri de nanoparticule
  Caracteristicile de suprafata ale scafoldurilor: rugozitate,
  Profil de sectiuni transversale prin filme subtiri, distributia de 
    nanoparticule
  Proprietati de material  visco elasticitate
  Nano-mecanica si curbe de forta
  Celule si membrane celulare; Biofizica medicamentului
  Auto asamblari moleculare- filme Langmuir-Blodgett (LBT)
  Morfologia biocompozitelor
  Calitatea materialelor  prin imagistica AFM si STM
 5. Persoane de contact:
 Conf. Univ. Dr. Aurora Mocanu,
    
    
    aurora.mocanu@ubbcluj.ro
 Dr. Ing. Petean Ioan, Asistent de cercetare
   |